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分容化成大电流探针高温的原因
作者：Summer 發布時間：2023-07-29 09:21:07 點擊：805
| 化成分容探针产生高温的原因及分析： |
| 1. 探针过流：在测试过程中，如果探针通过的电流过大，可能会导致探针产生高温。这可能是由于测试设备设置不正确，接触面积较小，电流线设计平方数不够或探针存在短路等因素引起的。 |
| 2. 探针接触内阻大：探针与电池极柱的接触内阻过大，可能导致探针产生高温。这可能是由于探针头脏污、探针压力不足、接触表面氧化或针尖磨损等原因引起的。 |
| 3. 探针材料问题：探针材料的热容量小、导热性差，可能会导致探针产生高温。这可能是由于探针材料的选择或制造工艺不当引起的。 |
| 4. 探针设计问题：探针的设计不合理，如散热不良、空气流通不畅，也可能会导致探针产生高温。 |
| 5. 环境影响：如果探针工作环境温度过高，也可能会导致探针产生高温。 |
| 针对探针产生高温的原因，可以采取不同的解决方案，例如调整测试设备设置、增大电流头接触面积，清洁探针头、调整探针压力、更换探针原材料、优化探针设计、改善工作环境等。具体解决方案需要根据实际情况进行确定。 |
| 夏满华 |
| 2023-7-22 |
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